품명	VK - X110 (3D 형상 측정 레이저 마이크로스코프)
	ㆍ200X - 24000X 배율 ㆍ0.5 nm Z축 고분해능 ㆍ고해상도, 깊은 피사계 심도 관찰 ㆍ전 처리가 필요 없이 프로파일과 조도 측정 ㆍ투명 층의 두께 및 균일성 측정